Berger, IrisMinner, Kerstin1996-10-172020-01-042022-11-262020-01-042022-11-2619950863-0712https://orlis.difu.de/handle/difu/91721Die Gerätekonfiguration besteht aus einem optischen Meßtaster Microfocus, einem Mikroskop zur exakten Positionierung und direkten Beobachtung der Probe, einem Luftlagerschlitten sowie einer Steuereinheit und einem PC als Meßrechner. Die Messung erfolgt mittels stark focussierenden Laserstrahls. Die zu prüfende Probe wird mit einem Luftlagerschlitten zeilenweise unter dem Sensor geführt. Mit dem Lasermikroskop können Punkt-, Linien- und Flächenmessungen durchgeführt werden. Ziel der Messung sind Kenngrößen, die es ermöglichen, die Oberflächen topographisch zu bewerten und quantitativ so zu vergleichen, daß der visuelle, ggf. durch optische Hilfsmittel unterstützte, jedoch nicht quantifizierbare Eindruck durch Meßwerte belegt wird. Anwendungsbeispiele der Methode sind dargestellt.ZeitschriftenaufsatzI96030071BaustoffOberflächeTopographieMessmethodeMesseinrichtungMikroskopieBasaltUntersuchungsmethodeLasertechnikAnwendungsbeispiel